GDBN-C1000電(dian)(dian)(dian)(dian)纜(lan)故(gu)障(zhang)測(ce)(ce)距儀是我們(men)公司(si)根據用戶要求，從現場使用考慮，精心設計和制造的(de)全(quan)新一(yi)代便攜式電(dian)(dian)(dian)(dian)纜(lan)故(gu)障(zhang)測(ce)(ce)試儀器。電(dian)(dian)(dian)(dian)纜(lan)儀減小了(le)體(ti)積、增(zeng)加了(le)直流(liu)電(dian)(dian)(dian)(dian)源(yuan)，可用于(yu)檢(jian)測(ce)(ce)各(ge)種電(dian)(dian)(dian)(dian)纜(lan)的(de)低阻、高阻、短路、開路、泄漏(lou)性(xing)故(gu)障(zhang)以(yi)及閃(shan)絡性(xing)故(gu)障(zhang)，可準確的(de)檢(jian)測(ce)(ce)地下電(dian)(dian)(dian)(dian)纜(lan)的(de)故(gu)障(zhang)點位置、電(dian)(dian)(dian)(dian)纜(lan)長度。它具有測(ce)(ce)試準確、智(zhi)能化程度高、適(shi)應面廣(guang)、性(xing)能穩(wen)定以(yi)及輕巧便攜等特點。
儀器采用漢字(zi)系統，高清晰(xi)度顯示(shi)，界面(mian)友好(hao)。
整套儀器特點：
1．整套設(she)備(bei)大容量(liang)充電電池供(gong)電、主機輕巧、便于(yu)攜帶、方便測試
2．采用(yong)了新型大(da)屏(ping)幕(mu)液晶顯(xian)示(shi)屏(ping)，高亮度、抗干擾(rao)性強。
3．大容量充(chong)電(dian)(dian)電(dian)(dian)池供(gong)電(dian)(dian)，方便現場對測(ce)、野外測(ce)試和(he)礦井電(dian)(dian)纜測(ce)試。
4．新(xin)研制的電流取樣器(qi)是(shi)一(yi)種全(quan)新(xin)的取樣方法(fa)，具有(you)接線(xian)簡單，波形直觀容易分析，與高壓完全(quan)隔離(li)，對(dui)主機(ji)、操作(zuo)人員絕對(dui)安全(quan)的特點。
電纜(lan)(lan)測試儀(yi)用于從電纜(lan)(lan)一端粗(cu)測故障點的地(di)下實際距離，同時(shi)用于測量電纜(lan)(lan)長度以及(ji)測定(ding)電波在電纜(lan)(lan)中的傳(chuan)播(bo)速度。
測試儀方框圖：電纜(lan)故障測(ce)試儀組成框圖如(ru)圖（1）所示：
第一節 電纜儀主要技術性能指示
一、電纜儀技術指標
1．使用范圍：使用于(yu)測量(liang)各(ge)種不同(tong)(tong)截面、不同(tong)(tong)介質的各(ge)種電(dian)(dian)(dian)力(li)電(dian)(dian)(dian)纜、高頻同(tong)(tong)軸電(dian)(dian)(dian)纜，市話電(dian)(dian)(dian)纜及兩根以(yi)上均勻鋪設(she)的地埋(mai)電(dian)(dian)(dian)線(xian)等電(dian)(dian)(dian)纜高低阻、短路、開路、斷線(xian)以(yi)及高阻泄漏和(he)高阻閃路性(xing)故障。
2．測(ce)試(shi)距離：30Km
3．最短測試距離（盲區）：10m
4．測量誤(wu)差：粗測誤(wu)差±5%; 定點誤(wu)差±0.5m
; 5．工作方式：低壓脈沖(chong)、直流高壓閃測及沖(chong)擊高壓閃測。
6．采樣速率(lv)：100MHz、50MHZ
7．機內發送脈沖(chong)寬度與幅度：0.2us, 100～120V； 2us, 140～160V。
8．顯示分辨率：V/50米、V為傳播速度m/us。
9．顯示方式：320×240 LCD液晶帶背光顯示。
10．電(dian)源與功(gong)耗：6V1a充電(dian)器。
11．設備尺寸：325×270×140
12．設備重量(liang)：3.5KG
第二節 儀器面板及操作功能
一、電纜儀面板及鍵盤示意如(ru)圖（2）所示：
1．輸(shu)(shu)入輸(shu)(shu)出插座(zuo)（信(xin)號源）：儀器使用(yong)(yong)航空插座(zuo)，連接電纜線用(yong)(yong)于測試(shi)信(xin)號的(de)輸(shu)(shu)入輸(shu)(shu)出。
2．幅度：用(yong)于調(diao)節(jie)(jie)輸入、輸出脈(mo)(mo)沖幅度大(da)小。使用(yong)時(shi)應根據屏幕顯示波(bo)形(xing)進(jin)行(xing)調(diao)節(jie)(jie)。調(diao)節(jie)(jie)過小時(shi)，脈(mo)(mo)沖反射很(hen)小，甚(shen)至(zhi)無法采樣，如(ru)圖（3）。調(diao)節(jie)(jie)過大(da)時(shi)，反射脈(mo)(mo)沖相連(lian)與基線(xian)無交點甚(shen)至(zhi)基線(xian)會變(bian)成斜線(xian)，如(ru)圖（4）。一(yi)般采樣前，輸入振幅旋鈕旋轉(zhuan)1/3左右，然后(hou)根據波(bo)形(xing)大(da)小在進(jin)行(xing)調(diao)節(jie)(jie)，重(zhong)新采樣。
3．對比度調節旋鈕(niu)（亮度）：調節此旋鈕(niu)，使字跡(ji)顯示清晰，無(wu)條(tiao)紋和背景干凈為宜(yi)。
4．短距(ju)離建議(yi)使用(yong)0.2us,長距(ju)離建議(yi)使用(yong)2us。
5．顯(xian)示(shi)屏：儀(yi)器用320×240點陣(zhen)式夜晶帶背(bei)光顯(xian)示(shi)屏，用于顯(xian)示(shi)操作菜單、測試波形、測試結果、日期等內(nei)容。
6．鍵盤功能(neng)介(jie)紹(shao)： ;
7．本儀器使用14個輕觸按鍵作(zuo)為控制功(gong)能鍵，其(qi)中有12個是(shi)雙功(gong)能鍵，鍵盤排(pai)列如圖(tu)（5）所示：
各鍵功能如下：
0-9數(shu)字鍵：上電復位時(shi)，數(shu)字(zi)鍵(jian)(jian)(jian)可(ke)以(yi)(yi)鍵(jian)(jian)(jian)入(ru)(ru)年、月、日，在測試狀態（非菜(cai)單狀態，下(xia)同），測故障、測全長，當屏幕(mu)左上角(jiao)顯(xian)示“鍵(jian)(jian)(jian)入(ru)(ru)速(su)度000”時(shi)，用數(shu)字(zi)鍵(jian)(jian)(jian)可(ke)以(yi)(yi)鍵(jian)(jian)(jian)入(ru)(ru)已(yi)知速(su)度值；在脈沖速(su)度狀態，用數(shu)字(zi)鍵(jian)(jian)(jian)可(ke)以(yi)(yi)鍵(jian)(jian)(jian)入(ru)(ru)已(yi)知電纜長度。總之(zhi)，當屏幕(mu)提示需鍵(jian)(jian)(jian)入(ru)(ru)數(shu)據時(shi)，0-9鍵(jian)(jian)(jian)就為數(shu)字(zi)鍵(jian)(jian)(jian)，否則(ze)就為其(qi)它(ta)功(gong)能鍵(jian)(jian)(jian)。
單雙波形顯示選擇(ze)鍵：按(an)此(ci)鍵可以(yi)使屏幕(mu)由雙波(bo)形(xing)顯(xian)(xian)(xian)示(shi)轉為(wei)單波(bo)形(xing)顯(xian)(xian)(xian)示(shi)（雙波(bo)形(xing)顯(xian)(xian)(xian)示(shi)時(shi)，顯(xian)(xian)(xian)示(shi)屏上半(ban)部(bu)顯(xian)(xian)(xian)示(shi)2波(bo)形(xing)，下半(ban)部(bu)顯(xian)(xian)(xian)示(shi)1波(bo)形(xing)），并隨意轉換，本儀器上電（復位(wei)）后，默認為(wei)上下雙波(bo)形(xing)顯(xian)(xian)(xian)示(shi)、并對存儲區1（1波(bo)形(xing)）進行操(cao)作(zuo)形(xing)式，按(an)此(ci)鍵一次將變為(wei)全屏幕(mu)單波(bo)形(xing)顯(xian)(xian)(xian)示(shi)方式。
該儀器有兩個存(cun)儲(chu)區(qu)，上電（復位）后，默認存(cun)儲(chu)區(qu)1存(cun)儲(chu)數據，當選擇(ze)對存(cun)儲(chu)區(qu)2（波(bo)形2）進行操(cao)作時(shi)，會在第(di)二波(bo)形顯(xian)示區(qu)（屏(ping)幕上半部）出(chu)現(xian)前次采樣波(bo)形，屬于正(zheng)常現(xian)象，重(zhong)按采樣鍵，本次采樣波(bo)形將取代上次存(cun)儲(chu)波(bo)形。
1/2上下波(bo)形選(xuan)擇鍵(jian)：儀器內部有(you)兩(liang)個波形(xing)(xing)存(cun)儲(chu)(chu)區，用此(ci)鍵(jian)可(ke)隨(sui)意選擇(ze)其中之(zhi)一為主(zhu)進行操作（包括采樣(yang)、擴展、打印等(deng)）。儀器上電復位(wei)后，自動默認對存(cun)儲(chu)(chu)區1（1波形(xing)(xing)）進行操作（雙屏顯(xian)(xian)示(shi)時(shi)屏幕下半部顯(xian)(xian)示(shi)存(cun)儲(chu)(chu)區1波形(xing)(xing)，波形(xing)(xing)前有(you)“1”或“2”）。當按(an)(an)動此(ci)鍵(jian)后，將對存(cun)儲(chu)(chu)區2（波形(xing)(xing)2）進行操作，再(zai)按(an)(an)此(ci)鍵(jian)又(you)變(bian)為對存(cun)儲(chu)(chu)區1波形(xing)(xing)操作，依次(ci)類推。
起點鍵：在測試狀態(tai)屏幕有波(bo)形(xing)(xing)顯示時，當光標(biao)(biao)移(yi)(yi)(yi)動到測試波(bo)形(xing)(xing)定標(biao)(biao)起(qi)點時，按起(qi)點鍵確(que)認波(bo)形(xing)(xing)計(ji)算(suan)起(qi)點。然后(hou)移(yi)(yi)(yi)動光標(biao)(biao)到波(bo)形(xing)(xing)終點，顯示測試數(shu)(shu)據。當光標(biao)(biao)前后(hou)移(yi)(yi)(yi)動時，顯示數(shu)(shu)據隨之變化。
光標移動鍵（↑）（↓）：按此(ci)(ci)二鍵豎(shu)形(xing)光(guang)標(biao)將下(xia)面的波形(xing)向(xiang)上(shang)或(huo)向(xiang)下(xia)移動，用于波形(xing)的重和合分離。（↑）（↓）光(guang)標(biao)左右移動鍵：按此(ci)(ci)二鍵光(guang)標(biao)將向(xiang)左、向(xiang)右移動。
快(kuai)/慢鍵(jian)（←）（→）：按(an)一(yi)(yi)下(xia)(xia)，波(bo)形下(xia)(xia)方(fang)出現1時，（↑）（↓）鍵為(wei)快動(dong)(dong)鍵，按(an)動(dong)(dong)一(yi)(yi)次光標(biao)(biao)移動(dong)(dong)8個點陣單位(wei)；當波(bo)形下(xia)(xia)方(fang)出現2時，（↑）（↓）鍵為(wei)慢動(dong)(dong)鍵，按(an)動(dong)(dong)一(yi)(yi)次光標(biao)(biao)移動(dong)(dong)1個點陣單位(wei)。
采樣鍵：在測試狀態，按采(cai)樣(yang)鍵后，儀器處于(yu)等待狀態。當低壓脈沖(chong)信號(hao)或(huo)高壓閃絡脈沖(chong)信號(hao)到來并觸發控制電路之后，儀器開(kai)始工(gong)作，記錄脈沖(chong)反射信號(hao)并處理顯示，在重新按動采(cai)樣(yang)鍵后，本(ben)次(ci)采(cai)樣(yang)波形(xing)將取代上次(ci)存儲波形(xing)。
故障測試(shi)時，應(ying)先重新調整(zheng)輸入振幅大小(xiao)后再按采樣鍵。重復幾次(ci)操作，直到顯示波(bo)形標準為止。
擴展鍵：在(zai)非鍵(jian)(jian)入數狀(zhuang)態，此鍵(jian)(jian)為擴展(zhan)顯示(shi)(shi)波(bo)形功(gong)能鍵(jian)(jian)。按此鍵(jian)(jian)將顯示(shi)(shi)波(bo)形橫向擴展(zhan)13倍。每(mei)按一次，波(bo)形擴展(zhan)1倍，當(dang)顯示(shi)(shi)屏右(you)上角(jiao)顯示(shi)(shi)01時，波(bo)形已擴展(zhan)13倍。再按此鍵(jian)(jian)又恢復波(bo)形壓縮(suo)狀(zhuang)態。
脈寬鍵：摁下脈寬按鍵的(de)同(tong)時脈寬指示(shi)燈點亮(liang)則表示(shi)使(shi)用(yong)的(de)是0.2us；指示(shi)燈滅則表示(shi)使(shi)用(yong)的(de)是2us。
速度鍵： ⑻ 回(hui)車(che)與(yu)速(su)度鍵為同一鍵。當(dang)用(yong)數字鍵鍵入(ru)(ru)(ru)了速(su)度值(zhi)(zhi)與(yu)電纜(lan)長度值(zhi)(zhi)時，必(bi)須按(an)“8”（回(hui)車(che)）鍵對數據(ju)確認(ren)，否則機器處于(yu)等待狀態(tai)無法工(gong)作（不采樣）。在測試狀態(tai)，測故障、測全長時，此(ci)鍵用(yong)于(yu)選(xuan)擇(ze)存(cun)入(ru)(ru)(ru)儀器中(zhong)的(de)四種(zhong)常用(yong)傳(chuan)輸速(su)度值(zhi)(zhi)。當(dang)連續(xu)按(an)此(ci)鍵，屏幕右(you)上(shang)角提示變為鍵入(ru)(ru)(ru)速(su)度000值(zhi)(zhi)時，利用(yong)數字鍵可以鍵入(ru)(ru)(ru)被測試電纜(lan)的(de)傳(chuan)輸值(zhi)(zhi)，鍵入(ru)(ru)(ru)完(wan)畢后(hou)按(an)回(hui)車(che)確認(ren)。
閃測(ce)設定的(de)四(si)種電纜的(de)波速為：
油浸紙電(dian)纜(lan)(lan)： V=160m/Us 聚(ju)氯乙烯電(dian)纜(lan)(lan)： V=184m/uS
交聯(lian)聚乙烯電纜：V=172m/uS 不滴流電纜： V=144m/uS
如果(guo)需要重新確定起點光(guang)標(biao)，可以用擴展(zhan)鍵將波形壓(ya)縮或擴展(zhan)，然后移動(dong)光(guang)標(biao)到波形起點，按起點確認，移動(dong)光(guang)標(biao)，屏(ping)幕重新顯示測試數據。
打印鍵（←）(選配功能(neng))：當用數(shu)字鍵(jian)入年月日、速度、長度時，若鍵(jian)入數(shu)據(ju)錯(cuo)誤，按此鍵(jian)可以修(xiu)改(gai)錯(cuo)誤數(shu)據(ju)，按一(yi)次由(you)右向左修(xiu)改(gai)一(yi)位，修(xiu)改(gai)后顯示數(shu)據(ju)為(wei)“0”，可重新(xin)鍵(jian)入正(zheng)確數(shu)據(ju)。打印(yin)(yin)(yin)功能(neng)：在(zai)測試狀態，按該鍵(jian)打印(yin)(yin)(yin)機工作。操作時，應在(zai)正(zheng)常(chang)測試波形顯示并確定光(guang)標(biao)起點(dian)、光(guang)標(biao)終點(dian)后再按打印(yin)(yin)(yin)鍵(jian)，打印(yin)(yin)(yin)機將打印(yin)(yin)(yin)主操作波形及(ji)測試數(shu)據(ju)。
復位鍵：為系統硬復位鍵(jian)，儀器無論在任何狀(zhuang)態，按此鍵(jian)將返(fan)回到(dao)主菜單(dan)。
電(dian)源(yuan)保險：220v5A熔(rong)斷器。
通過上面(mian)各(ge)部件及按(an)鍵功(gong)能介紹，基本(ben)上就可掌握(wo)測試儀使用方法。
二、操作菜單介紹
開(kai)機，上電復(fu)位(wei)后顯示第(di)一畫面為版(ban)權標志，如(ru)圖(tu)（6）開(kai)機狀態示意圖(tu)。
當依次鍵入(ru)年月日自動進(jin)入(ru)第二畫面(mian)，或者(zhe)按“復位”直接進(jin)入(ru)工作選擇菜單(dan)。
●“工作選擇”菜單
●“脈沖(chong)”方式菜(cai)單(dan)，由主菜(cai)單(dan)選1則(ze)進入(ru)脈沖(chong)菜(cai)單(dan)。
根據實際測試需(xu)要原則按(an)鍵(jian)選擇(ze)。
三、測試顯示主界面介紹
主(zhu)界面分三個區(qu)，上方為(wei)(wei)計(ji)算參(can)數與結果區(qu)，如圖(tu)（7）所示(shi)(shi)(shi)。中間為(wei)(wei)波形顯示(shi)(shi)(shi)（采(cai)樣前為(wei)(wei)接線圖(tu)）區(qu)，根(gen)據需要(yao)可顯示(shi)(shi)(shi)一條或(huo)兩條波形。同時顯示(shi)(shi)(shi)豎線光標和(he)時間刻(ke)度。下方為(wei)(wei)狀(zhuang)態和(he)日期顯示(shi)(shi)(shi)區(qu)，狀(zhuang)態顯示(shi)(shi)(shi)分別(bie)為(wei)(wei)脈(mo)沖直閃、沖1、沖2，在(zai)脈(mo)沖測全(quan)長(chang)和(he)測故(gu)障時則(ze)提示(shi)(shi)(shi)要(yao)選(xuan)擇速(su)度，測速(su)度則(ze)提示(shi)(shi)(shi)鍵入全(quan)長(chang)值。閃測狀(zhuang)態只提出速(su)度選(xuan)擇。
第三節 電纜故障測試步驟及測試方式選擇
在測定電纜(lan)故障之前，測試人員(yuan)除掌握本(ben)機(ji)性能與操作方法(fa)之外，必須首先確定電纜(lan)故障的性質(zhi)，以便采用適當的工作方法(fa)與測試方法(fa)。
1、首先用(yong)兆歐表或萬用(yong)表在電(dian)纜一端測量(liang)各相對地(di)及相間的絕緣(yuan)電(dian)阻，根據(ju)阻值高低確(que)定是低阻短路(lu)或斷線開(kai)路(lu)，或者是高阻閃絡性故障。
2、當阻值低于200～300歐(ou)姆為低阻故障，0～幾十歐(ou)為短路故障，阻值極高(gao)到無限大(da)為開路或斷(duan)線故障。是否斷(duan)線，還(huan)可以將電(dian)纜(lan)終(zhong)端相連用萬能(neng)表在始端測量被(bei)短接(jie)兩(liang)相的阻值加以確(que)認(ren)。此類故障可用低脈沖(chong)法(fa)直接(jie)測定(ding)。
3、當阻值很(hen)高（數百兆和千兆）且(qie)在(zai)作高壓(ya)實(shi)驗時有(you)瞬間放電現象，此類故障一般(ban)稱為閃(shan)絡(luo)性故障，可采用(yong)直(zhi)流高壓(ya)閃(shan)測法確定。
4、高阻故(gu)障：阻值高于低阻故(gu)障，可用(yong)直流(liu)高壓閃測法確定。
5、按一定方式粗略測試(shi)之(zhi)后(hou)再進行定點，必要時需(xu)查找電(dian)(dian)纜(lan)路徑，丈(zhang)量(liang)電(dian)(dian)纜(lan)長度(du)或(huo)距離。
第二章 低壓脈沖測試法
低(di)壓(ya)脈(mo)沖測(ce)(ce)試(shi)(shi)法具有操(cao)作(zuo)簡單、波形(xing)易(yi)于(yu)識別、準確度高(gao)等特點。對于(yu)短(duan)路(lu)、低(di)阻、斷(duan)線(xian)故(gu)障(zhang)用此法測(ce)(ce)試(shi)(shi)，可(ke)直(zhi)接確定(ding)故(gu)障(zhang)距離(li)。即使無(wu)此類故(gu)障(zhang)，一般高(gao)壓(ya)閃絡測(ce)(ce)試(shi)(shi)前(qian)，也可(ke)以低(di)壓(ya)脈(mo)沖法測(ce)(ce)電纜全長或速度，與閃絡測(ce)(ce)試(shi)(shi)波形(xing)比較，通常會(hui)利于(yu)波形(xing)分析，達到(dao)快速確定(ding)故(gu)障(zhang)點目的(de)。
第一節 低壓脈沖測試基本原理
測量電(dian)纜(lan)故(gu)(gu)障(zhang)時(shi)，電(dian)纜(lan)可視為一(yi)(yi)條均(jun)勻分布(bu)的傳輸(shu)(shu)(shu)線(xian)理論，在電(dian)纜(lan)一(yi)(yi)端加脈(mo)(mo)沖(chong)(chong)電(dian)壓，則(ze)此脈(mo)(mo)沖(chong)(chong)按一(yi)(yi)定的速度(du)（決(jue)定于電(dian)纜(lan)介(jie)質電(dian)常數和(he)導磁(ci)系數）沿(yan)線(xian)傳輸(shu)(shu)(shu)，當脈(mo)(mo)沖(chong)(chong)遇到故(gu)(gu)障(zhang)點(dian)（或阻抗不(bu)均(jun)勻點(dian)）就會(hui)發(fa)生(sheng)反(fan)射(she)，用閃測儀記錄下(xia)發(fa)送脈(mo)(mo)沖(chong)(chong)和(he)反(fan)射(she)脈(mo)(mo)沖(chong)(chong)之間(jian)的傳輸(shu)(shu)(shu)時(shi)間(jian)△T，則(ze)可按已知(zhi)的傳輸(shu)(shu)(shu)速度(du)V來(lai)計(ji)算出(chu)故(gu)(gu)障(zhang)的距離Lx，Lx=V·△T/2，例(li)圖（8）所示(shi)：
測全(quan)長則可利用終端(duan)反射脈(mo)沖(chong)：L=V·T/2
; 同樣(yang)已知全長(chang)可測出傳輸速度(du)：V=2L/T
第二節 低壓脈沖測試法測全長
測(ce)全長(chang)操作步驟如(ru)下：開機（上(shang)電(dian)復(fu)位）一復(fu)位（主菜單）一鍵(jian)1（工(gong)作選擇菜單）一鍵(jian)1（脈沖菜單）一鍵(jian)1（測(ce)全長(chang)），然后根據屏幕顯示接(jie)線圖(tu)接(jie)線，如(ru)圖(tu)（9）所示：
使用(yong)脈(mo)沖法測試時(shi)，按(an)圖連(lian)接(jie)后(hou)，根據所測電纜(lan)類(lei)型，選(xuan)擇合適傳輸(shu)速度和脈(mo)寬(kuan)，調節輸(shu)入振(zhen)幅電位器1/3位置，按(an)采樣鍵即(ji)可(ke)。
根(gen)據顯(xian)示波(bo)(bo)形(xing)(xing)(xing)(xing)大小，調(diao)節幅度電位(wei)器，重新(xin)采(cai)(cai)樣(yang)。當0.2us脈(mo)寬(kuan)輸入振幅最(zui)大還(huan)反(fan)射(she)(she)波(bo)(bo)時，選(xuan)(xuan)用(yong)2us脈(mo)沖測(ce)試。為(wei)了(le)便(bian)于(yu)比較(jiao)可分別接(jie)故障相與另(ling)一好(hao)相作兩次采(cai)(cai)樣(yang)。按（↑）（↓）鍵可選(xuan)(xuan)單波(bo)(bo)形(xing)(xing)(xing)(xing)或雙波(bo)(bo)形(xing)(xing)(xing)(xing)顯(xian)示，用(yong)1/2鍵改變操(cao)作區(qu)，選(xuan)(xuan)擇當前波(bo)(bo)形(xing)(xing)(xing)(xing)1或2。完成(cheng)采(cai)(cai)樣(yang)后，移(yi)動光標(biao)(biao)定(ding)起(qi)點(dian)(dian)，再移(yi)動光標(biao)(biao)到波(bo)(bo)形(xing)(xing)(xing)(xing)反(fan)射(she)(she)點(dian)(dian)，此(ci)時屏幕所顯(xian)示的長度就(jiu)是電纜(lan)全長值。對于(yu)短電纜(lan)最(zui)好(hao)將終(zhong)端短路(lu)測(ce)全長，終(zhong)端反(fan)射(she)(she)改為(wei)負脈(mo)沖，定(ding)光標(biao)(biao)時，對終(zhong)端開路(lu)電纜(lan)以(yi)發射(she)(she)正(zheng)脈(mo)沖上(shang)升(sheng)沿與基(ji)線(xian)交點(dian)(dian)為(wei)準定(ding)光標(biao)(biao)起(qi)點(dian)(dian)，以(yi)反(fan)射(she)(she)正(zheng)脈(mo)沖上(shang)升(sheng)沿與基(ji)線(xian)交點(dian)(dian)定(ding)光標(biao)(biao)終(zhong)點(dian)(dian)。
第三節 低壓脈沖測試法測故障
脈沖(chong)法(fa)測故障與(yu)測全(quan)長的(de)測試原理(li)相(xiang)同(tong)(tong)，操作方法(fa)也基本相(xiang)同(tong)(tong)。當脈沖(chong)菜單(dan)出現時，可選(xuan)鍵(jian)1（測全(quan)長），也可選(xuan)鍵(jian)2（測故障）。接(jie)(jie)線圖與(yu)圖（9）相(xiang)同(tong)(tong)，連(lian)接(jie)(jie)電纜接(jie)(jie)被測電纜故障相(xiang)同(tong)(tong)，其它操作方法(fa)也與(yu)測全(quan)長相(xiang)同(tong)(tong)。
如(ru)果是低阻(zu)、斷路故障，測試波形(xing)如(ru)圖（10）所(suo)示(shi)：
定光(guang)(guang)標時，發射正脈(mo)沖上升沿與(yu)基(ji)線交(jiao)點定為起點，反(fan)射負脈(mo)沖下降沿與(yu)基(ji)線交(jiao)點定為終點。如果是短(duan)路故障，測(ce)(ce)試(shi)波形，定光(guang)(guang)標方法(fa)與(yu)測(ce)(ce)全長(chang)時相同。
第四節 低壓脈沖測試法測速度
測(ce)電(dian)(dian)波在電(dian)(dian)纜中傳(chuan)輸速度(du)時，必須(xu)知(zhi)道電(dian)(dian)纜全長(chang)。操作方(fang)法如下：開機(ji)（上電(dian)(dian)復位(wei)）→復位(wei)（主(zhu)菜(cai)單）→鍵(jian)1（工作選擇菜(cai)單）→鍵(jian)1（脈沖菜(cai)單）→鍵(jian)3（測(ce)速度(du)）,然后按圖（9）接線(xian)，鍵(jian)入全長(chang)值并回車。采樣波形(xing)、定光(guang)標(biao)方(fang)法與(yu)測(ce)全長(chang)時相同(tong)，當(dang)分別定光(guang)標(biao)起點、終點后，屏幕左(zuo)上角(jiao)將顯(xian)示測(ce)試速度(du)值。
第三章 沖擊高壓閃測法（沖閃法）
第一節 沖閃法基本原理
沖(chong)閃(shan)(shan)法(fa)適用于測(ce)試高(gao)(gao)阻(zu)(zu)泄漏性故(gu)障(zhang)。對(dui)其他類型高(gao)(gao)低阻(zu)(zu)故(gu)障(zhang)也可用沖(chong)閃(shan)(shan)法(fa)測(ce)試。
測(ce)試方法與直(zhi)閃法相同(tong)(tong)，只不過給(gei)電(dian)(dian)(dian)纜(lan)不是(shi)(shi)加直(zhi)流(liu)(liu)高壓(ya)(ya)而是(shi)(shi)通過球間(jian)隙施加沖(chong)擊(ji)電(dian)(dian)(dian)壓(ya)(ya)，使(shi)故障(zhang)點(dian)擊(ji)穿(chuan)放電(dian)(dian)(dian)，而產(chan)生反射(she)電(dian)(dian)(dian)壓(ya)(ya)（或者(zhe)電(dian)(dian)(dian)流(liu)(liu)），由儀器記(ji)錄這(zhe)一瞬間(jian)狀(zhuang)態的(de)過程，通過波形分(fen)析來測(ce)定故障(zhang)點(dian)的(de)位置。它是(shi)(shi)測(ce)高阻及閃絡性故障(zhang)的(de)主(zhu)要方法。同(tong)(tong)樣取(qu)(qu)樣方式也分(fen)電(dian)(dian)(dian)壓(ya)(ya)取(qu)(qu)樣和(he)(he)電(dian)(dian)(dian)流(liu)(liu)取(qu)(qu)樣，當(dang)然細分(fen)還可分(fen)為高端和(he)(he)低端電(dian)(dian)(dian)壓(ya)(ya)取(qu)(qu)樣，電(dian)(dian)(dian)感與電(dian)(dian)(dian)阻取(qu)(qu)樣，始端與終端取(qu)(qu)樣等(deng)。由于低端電(dian)(dian)(dian)流(liu)(liu)取(qu)(qu)樣接線簡便、可靠安(an)全、波形易(yi)于識別，所以推薦電(dian)(dian)(dian)流(liu)(liu)取(qu)(qu)樣法。
第二節 電流取樣沖閃法
閃(shan)沖(chong)法操作(zuo)方法如(ru)下：開機（上(shang)電(dian)復位）→復位（主(zhu)菜(cai)(cai)單(dan)）→鍵1（工作(zuo)選擇菜(cai)(cai)單(dan)）→鍵3（沖(chong)閃(shan)1）.根(gen)據工作(zuo)選擇菜(cai)(cai)單(dan)提(ti)示，沖(chong)閃(shan)分(fen)為：沖(chong)閃(shan)1和沖(chong)閃(shan)2兩(liang)種方式(shi)(shi)。其中閃(shan)沖(chong)1是(shi)(shi)正脈(mo)觸發方式(shi)(shi)（如(ru)電(dian)流取(qu)(qu)樣(yang)(yang)），沖(chong)閃(shan)2是(shi)(shi)負脈(mo)沖(chong)觸發方式(shi)(shi)（如(ru)高端(duan)電(dian)壓取(qu)(qu)樣(yang)(yang)）。按(an)推薦選用電(dian)流取(qu)(qu)樣(yang)(yang)方式(shi)(shi)，所(suo)以按(an)鍵3進入沖(chong)閃(shan)1工作(zuo)模式(shi)(shi)。
進入沖閃(shan)后，按屏(ping)幕(mu)提示接(jie)線圖(tu)連接(jie)接(jie)線和取樣(yang)器(qi)如圖(tu)（11）所示：
圖（11）中：T1、為0～250V1-2KVA調壓器(qi)
T2、 為高壓變壓器，功率1-3KVA
D、 為(wei)高壓整流硅堆(dui)，大于150KV/0.2A（高壓實驗(yan)變壓器已內置(zhi)）
R 、 為限(xian)流電阻（可不要）
C 、 為(wei)高(gao)壓脈沖電容(rong)(rong)，容(rong)(rong)量1∽8μF，耐壓大于10KV
V 、 為直流電壓(ya)表
B、 為電流取樣器（配(pei)套(tao)附件(jian)）
以上設備除電(dian)(dian)流取樣器B之外，其余為外配設備，可用圖（11）分體高(gao)壓(ya)(ya)試驗(yan)(yan)設備，也可用一體化高(gao)壓(ya)(ya)電(dian)(dian)源（注(zhu)意必(bi)須將高(gao)壓(ya)(ya)放電(dian)(dian)棒與高(gao)壓(ya)(ya)地線連(lian)接好方可試驗(yan)(yan)）。
根據接線圖連接完畢后，再用速度鍵選擇傳輸速度或重新鍵入速度值。將輸入振幅旋鈕旋至1/3左右，然后按采樣鍵，儀器進入(ru)等(deng)待采樣狀態。
調整球(qiu)隙、輸入振幅旋(xuan)鈕后，然后通電(dian)對故(gu)障電(dian)纜升壓(ya)。電(dian)壓(ya)升到一定(ding)值，故(gu)障點發生閃絡放(fang)電(dian)。儀器記錄(lu)下波形。根據(ju)波形大小可重新調整輸入振幅，重復采樣。沖(chong)閃測(ce)試波形如圖（12）所示：
波(bo)形特點(dian)分析如下：第(di)(di)一個小(xiao)正脈(mo)(mo)沖(chong)(chong)(chong)為(wei)(wei)球(qiu)間隙擊(ji)穿(chuan)(chuan)而(er)故(gu)(gu)(gu)障(zhang)點(dian)沒有放(fang)電(dian)(dian)時電(dian)(dian)容(rong)(rong)器對電(dian)(dian)纜放(fang)電(dian)(dian)的(de)(de)(de)電(dian)(dian)流(liu)脈(mo)(mo)沖(chong)(chong)(chong)（輸入幅(fu)(fu)度小(xiao)或(huo)者(zhe)儀(yi)器的(de)(de)(de)靈敏度低時第(di)(di)一個小(xiao)脈(mo)(mo)沖(chong)(chong)(chong)可能(neng)不出(chu)現，第(di)(di)二(er)個大的(de)(de)(de)正脈(mo)(mo)沖(chong)(chong)(chong)為(wei)(wei)故(gu)(gu)(gu)障(zhang)點(dian)擊(ji)穿(chuan)(chuan)之后形成的(de)(de)(de)短路電(dian)(dian)流(liu)脈(mo)(mo)沖(chong)(chong)(chong)，其次(ci)為(wei)(wei)由該放(fang)電(dian)(dian)電(dian)(dian)流(liu)脈(mo)(mo)沖(chong)(chong)(chong)形成的(de)(de)(de)一次(ci)、二(er)次(ci)等多(duo)次(ci)反(fan)(fan)射電(dian)(dian)流(liu)脈(mo)(mo)沖(chong)(chong)(chong)，由于衰減(jian)而(er)幅(fu)(fu)度逐漸減(jian)小(xiao)。由于故(gu)(gu)(gu)障(zhang)特性的(de)(de)(de)差異和電(dian)(dian)容(rong)(rong)電(dian)(dian)壓與引線電(dian)(dian)感(gan)的(de)(de)(de)存在而(er)在反(fan)(fan)射正脈(mo)(mo)沖(chong)(chong)(chong)的(de)(de)(de)前(qian)沿(yan)(yan)出(chu)現負(fu)反(fan)(fan)沖(chong)(chong)(chong)，計算故(gu)(gu)(gu)障(zhang)距離時起點(dian)為(wei)(wei)第(di)(di)一個放(fang)電(dian)(dian)正脈(mo)(mo)沖(chong)(chong)(chong)的(de)(de)(de)前(qian)沿(yan)(yan)，終點(dian)為(wei)(wei)第(di)(di)一次(ci)反(fan)(fan)射正脈(mo)(mo)沖(chong)(chong)(chong)之前(qian)的(de)(de)(de)負(fu)脈(mo)(mo)沖(chong)(chong)(chong)前(qian)沿(yan)(yan)。（發射脈(mo)(mo)沖(chong)(chong)(chong)為(wei)(wei)正脈(mo)(mo)沖(chong)(chong)(chong)，反(fan)(fan)射脈(mo)(mo)沖(chong)(chong)(chong)也(ye)為(wei)(wei)正脈(mo)(mo)沖(chong)(chong)(chong)但(dan)前(qian)沿(yan)(yan)有負(fu)反(fan)(fan)沖(chong)(chong)(chong)。因故(gu)(gu)(gu)障(zhang)性質(zhi)等原因，負(fu)反(fan)(fan)沖(chong)(chong)(chong)大小(xiao)有差別，但(dan)遠小(xiao)于正脈(mo)(mo)沖(chong)(chong)(chong)的(de)(de)(de)幅(fu)(fu)值。
定(ding)光(guang)標(biao)時，起點(dian)光(guang)標(biao)選(xuan)擇(ze)在正脈(mo)沖(chong)(chong)上升沿與(yu)基(ji)線(xian)交(jiao)點(dian)處，終點(dian)光(guang)標(biao)選(xuan)擇(ze)在負反(fan)沖(chong)(chong)下降沿與(yu)基(ji)線(xian)交(jiao)點(dian)處。如無負脈(mo)沖(chong)(chong)出(chu)現(xian)，就將(jiang)終點(dian)光(guang)標(biao)定(ding)在反(fan)射脈(mo)沖(chong)(chong)的上升沿與(yu)基(ji)線(xian)的交(jiao)點(dian)處，故障顯示距離因此將(jiang)增大(da)10%左右。定(ding)點(dian)時，應(ying)將(jiang)粗測(ce)距離壓(ya)縮后確定(ding)參考點(dian)位(wei)置。）
第四章 直流高壓測試法（直閃法）
直閃(shan)(shan)法(fa)適(shi)用(yong)于測量高(gao)阻閃(shan)(shan)絡性故障。實(shi)際測試(shi)時，其操作方(fang)(fang)法(fa)和接(jie)線圖與沖閃(shan)(shan)法(fa)基本相(xiang)同（無球隙）。直閃(shan)(shan)法(fa)也分：電壓取樣和電流取樣兩種方(fang)(fang)式。我(wo)們推薦使用(yong)電流取樣方(fang)(fang)式。
當(dang)故障相(xiang)施加直流高壓到一定值后，故障點(dian)(dian)則被(bei)擊(ji)穿而短(duan)路放電，此時(shi)由故障點(dian)(dian)產生一反(fan)相(xiang)躍變電壓2V10該電壓沿電纜傳(chuan)輸(shu)，當(dang)傳(chuan)到始端(duan)后，始端(duan)的阻抗大于(yu)電纜特性阻抗，所以(yi)發生下反(fan)射2V10，此電壓又(you)繼續向后傳(chuan)輸(shu)，到故障點(dian)(dian)后被(bei)短(duan)路，所以(yi)反(fan)射電壓-2V1,經過一段時(shi)間負(fu)反(fan)射電壓又(you)傳(chuan)一始端(duan)，這樣(yang)往(wang)返數(shu)次，直到閃絡(luo)放電結束(shu)而中(zhong)止。
第一節 直閃法測試連線與操作步驟
1.依據下圖（13）將高壓設備測試儀(yi)與被測電纜相連，此演示為(wei)分體高壓電源(yuan)。
圖中： T1、為3KVA/0.22KV調壓器
T2、為3KVA/50KV交直流高壓變壓器
D、為高壓(ya)整流(liu)硅堆，大于(yu)150KV/0.2A
C 、為高壓脈沖電容(rong)，容(rong)量1∽2μF，耐壓小于40KV
V 、為(wei)電壓表、 R1和(he)R2為(wei)分(fen)壓器
;B、為電流取樣器（配套附件(jian)）
以上設備(bei)除(chu)電(dian)流取樣器B之外，其余(yu)為外配設備(bei)。（注意必須將(jiang)高壓(ya)放電(dian)棒與(yu)高壓(ya)地(di)線(xian)連接好方可(ke)試驗）
1.接好線路后(hou)，開機使儀器處于等待狀態（采樣）此前操作(zuo)與(yu)脈沖法相同。
2.調（T1）檔位，逐漸升高直(zhi)流電(dian)壓，當發現電(dian)壓或(huo)電(dian)流表擺動時則(ze)說明故障(zhang)點閃絡(luo)放電(dian)，儀器(qi)會(hui)顯示出波形，調入幅(fu)度反復多(duo)次采樣，直(zhi)到收到的波形最佳為止。
3.采用直(zhi)閃法測試時，將(jiang)操作箱(xiang)電(dian)(dian)(dian)流繼電(dian)(dian)(dian)器(qi)倍率放(fang)在×1或×2檔(dang)，保證放(fang)電(dian)(dian)(dian)一(yi)次(ci)即保護，采樣波形即可，定點時要連續的放(fang)電(dian)(dian)(dian)，再將(jiang)電(dian)(dian)(dian)流繼電(dian)(dian)(dian)器(qi)倍率放(fang)在OFF檔(dang)。
第二節 高壓閃絡測試波形
故(gu)障在測試始端的波形 詳(xiang)見下圖（14）所示：
2.故障在中間(jian)段的波形
3.故(gu)障在測試(shi)終端(duan)的波形(xing)
圖（14）故障在測試(shi)始(shi)端(duan)的(de)波(bo)形(xing)
4.閃絡法測試波(bo)形的變化規律
下(xia)圖(tu)（15）是我們根據閃(shan)絡測試法的波形而繪制(zhi)的變化(hua)規律(lv)圖(tu)，只(zhi)要仔細觀查分析就可看(kan)出它們中(zhong)的變化(hua)規律(lv)。希望使用者一定(ding)要掌握標準波形以及它們在不同區間(jian)的變化(hua)規律(lv)。
圖（15）閃絡法測(ce)試波形(xing)的變化規律(lv)圖
第三節 高壓閃絡測試注意事項
高(gao)(gao)壓閃絡測試時電壓高(gao)(gao)達數萬伏，因此(ci)操(cao)作中必(bi)須按(an)高(gao)(gao)壓操(cao)作規程進行(xing)。還要特別(bie)注意以下幾項：
高壓閃絡測試(shi)時，高壓試(shi)驗設備應(ying)由專業人員(yuan)操作，儀器接線(xian)，測試(shi)中在改變接線(xian)、調整球隙間距時務(wu)必斷(duan)電(dian)，并對電(dian)容(rong)器和電(dian)纜充(chong)分放電(dian)，再(zai)與地線(xian)搭(da)接。
; 1.測(ce)試前(qian)，應先(xian)對故障(zhang)電纜(lan)加壓(ya)放電，確保各(ge)連接(jie)線(xian)點無放電現象，所加電壓(ya)已使故障(zhang)點發生(sheng)閃絡放電，然后(hou)開始投入儀器測(ce)試。
2.用閃測(ce)法(fa)測(ce)高(gao)(gao)阻(zu)故障時，使用者且勿對(dui)計算機(ji)進(jin)行(xing)(xing)其它操(cao)作，絕對(dui)避(bi)免選在“低壓(ya)脈沖(chong)”狀態進(jin)行(xing)(xing)高(gao)(gao)壓(ya)閃絡(luo)測(ce)試(shi)。測(ce)試(shi)儀連線(xian)應遠離(li)高(gao)(gao)壓(ya)線(xian)。
3.正確(que)接(jie)地(di)(di)，即將高壓(ya)變壓(ya)器(qi)（T2）高壓(ya)尾、操作箱（T1）地(di)(di)線、電流取樣器(qi)（JS）地(di)(di)線端(duan)分(fen)別與被測電纜(lan)鎧(kai)裝(zhuang)連在同(tong)一點(dian)上（同(tong)一點(dian)接(jie)地(di)(di)）。所(suo)有連接(jie)點(dian)不能出現打火現象，以確(que)保(bao)測試成功及設備、人身安全(quan)。
4.從測(ce)(ce)試儀(yi)安(an)全考慮，閃(shan)絡測(ce)(ce)試時(shi)工作菜單(dan)一定要(yao)選擇在(zai)沖閃(shan)或直閃(shan)狀(zhuang)態，如果錯誤選擇脈沖狀(zhuang)態進行高壓(ya)閃(shan)絡測(ce)(ce)試，將(jiang)可能損壞測(ce)(ce)試儀(yi)內(nei)部的低壓(ya)脈沖電(dian)路。
5.測(ce)試中避免(mian)使(shi)用交(jiao)(jiao)流(liu)電源(yuan)對前端（閃測(ce)儀）和計算機充電，使(shi)其與被測(ce)交(jiao)(jiao)流(liu)電源(yuan)完全脫離。
6.高壓閃絡法測(ce)試(shi)(shi)完畢(bi)后，必須(xu)反復對電容(rong)器及電纜(lan)放電，方(fang)可用低(di)壓脈沖法重新(xin)對電纜(lan)進行測(ce)試(shi)(shi)操作。
第五章：測試波形分析與定標
電纜故障(zhang)探測(ce)時，首(shou)先必須熟練掌握設(she)備操作方(fang)法(fa)；其次，必須能對(dui)(dui)各(ge)(ge)種測(ce)試(shi)(shi)波形進行分析，準確(que)確(que)定光標起點、終點。下(xia)面就對(dui)(dui)各(ge)(ge)種測(ce)試(shi)(shi)波形特點及定標方(fang)法(fa)做(zuo)簡要(yao)介紹。
第一節 低壓脈沖法測試開路故障（測全長、測速度）波形
低壓脈沖法測(ce)開路斷線故障，或者用(yong)電纜好相(xiang)(xiang)測(ce)全長、測(ce)速度(du)（相(xiang)(xiang)線開路）時，測(ce)試波形如圖（16）所(suo)示：
圖（16） 低(di)壓脈沖測(ce)全(quan)長波形
波形特(te)點：發(fa)射(she)脈沖與一次反射(she)，二次反射(she)等各反射(she)波形都(dou)為正(zheng)脈沖波形。
定(ding)(ding)光(guang)標方法(fa)：光(guang)標起點(dian)定(ding)(ding)在(zai)發射(she)脈沖(chong)(chong)上升沿(yan)與基線交點(dian)處，光(guang)標終(zhong)點(dian)定(ding)(ding)在(zai)一次反射(she)脈沖(chong)(chong)上升沿(yan)與基線交點(dian)處。
第二節 低壓脈沖法測低阻短路故障波形
脈沖(chong)法測(ce)低(di)阻短路故障，或者(zhe)將好相非(fei)測(ce)試端(duan)與鎧裝(zhuang)短接(jie)測(ce)全(quan)長、測(ce)速度時，測(ce)試波形如圖(tu)（17）所示：
波(bo)形特點(dian)：發射脈(mo)(mo)沖(chong)為(wei)正脈(mo)(mo)沖(chong)波(bo)形，一次(ci)反(fan)(fan)射為(wei)負脈(mo)(mo)沖(chong)波(bo)形，二次(ci)反(fan)(fan)射為(wei)正脈(mo)(mo)沖(chong)波(bo)形，三次(ci)反(fan)(fan)射又為(wei)負脈(mo)(mo)沖(chong)波(bo)形，依次(ci)類推。
定光標方法：發(fa)射(she)脈沖上升沿與(yu)基線交點(dian)定為(wei)起(qi)點(dian)，一次(ci)反射(she)脈沖下降沿與(yu)基線交點(dian)定為(wei)終點(dian)。
圖（17） 低壓脈沖測低阻短路故障波形
第三節 閃絡法電流取樣測試波形
高壓閃(shan)絡法測(ce)試(shi)電(dian)纜(lan)故障時，其(qi)波形變化較大(da)，但大(da)部分測(ce)試(shi)波形都有(you)共同點，及各類性質的故障反(fan)射波形全為正波形，且(qie)前沿有(you)負反(fan)沖(chong)，以電(dian)流(liu)取樣(yang)為例，閃(shan)絡法測(ce)試(shi)時其(qi)測(ce)試(shi)波形如(ru)圖（18）所示：
圖（18） 閃絡法電流取樣測試波形(xing)
波(bo)形(xing)特點：發射波(bo)形(xing)為(wei)正脈(mo)沖(chong)波(bo)形(xing)，反射波(bo)形(xing)為(wei)正脈(mo)沖(chong)波(bo)形(xing)，但(dan)脈(mo)沖(chong)前沿(yan)有(you)一個向(xiang)下的負(fu)反沖(chong)，隨故(gu)障不同，負(fu)反沖(chong)大小(xiao)有(you)較大差別。
定(ding)光(guang)(guang)(guang)標(biao)方法：在發射(she)(she)(she)脈(mo)沖(chong)(chong)上(shang)升沿與(yu)(yu)基(ji)線交點處定(ding)光(guang)(guang)(guang)標(biao)起點，在反(fan)射(she)(she)(she)脈(mo)沖(chong)(chong)負(fu)反(fan)沖(chong)(chong)下降(jiang)前(qian)沿與(yu)(yu)基(ji)線交點處，定(ding)光(guang)(guang)(guang)標(biao)終點。若在測試時反(fan)射(she)(she)(she)脈(mo)沖(chong)(chong)無前(qian)沿負(fu)反(fan)沖(chong)(chong)，終點光(guang)(guang)(guang)標(biao)定(ding)在反(fan)射(she)(she)(she)脈(mo)沖(chong)(chong)上(shang)升沿與(yu)(yu)基(ji)線交點處。
第四節 閃絡法測試時故障點不放電波形
對于有些(xie)高(gao)(gao)阻(zu)故(gu)(gu)障，加高(gao)(gao)壓沖擊時(shi)，雖然球間隙放(fang)電(dian)，并且(qie)有時(shi)放(fang)電(dian)聲還較大（干脆(cui)），但故(gu)(gu)障點實(shi)際上(shang)并未形(xing)成閃絡放(fang)電(dian)，而是將電(dian)能緩慢(man)釋放(fang)掉，這時(shi)，顯示波形(xing)就無法確(que)定故(gu)(gu)障點。故(gu)(gu)障點不放(fang)電(dian)時(shi)，從(cong)波形(xing)上(shang)可(ke)(ke)顯示出來，從(cong)而可(ke)(ke)以(yi)采取其它測試方法迫使故(gu)(gu)障點放(fang)電(dian)。閃絡測試故(gu)(gu)障點不放(fang)電(dian)波形(xing)如圖（19）所(suo)示：
圖（19） 閃絡測試故障點不放電波形
波(bo)形(xing)(xing)特點(dian)(dian)：故障點(dian)(dian)不(bu)放電波(bo)形(xing)(xing)特點(dian)(dian)為發射脈沖為正波(bo)形(xing)(xing)，一次(ci)(ci)反(fan)射脈沖為負波(bo)形(xing)(xing)，二(er)次(ci)(ci)反(fan)射波(bo)形(xing)(xing)又為正波(bo)形(xing)(xing)，以此(ci)類推。同時，發射波(bo)形(xing)(xing)同反(fan)射波(bo)形(xing)(xing)間(jian)距離等于(yu)電纜全(quan)長(chang)。
遇到故(gu)(gu)障點不放(fang)電(dian)(dian)(dian)波(bo)形時，可(ke)按以下(xia)幾種(zhong)方法(fa)迫使故(gu)(gu)障點閃(shan)(shan)絡放(fang)電(dian)(dian)(dian)：一是加(jia)(jia)大放(fang)電(dian)(dian)(dian)球(qiu)隙，提高(gao)沖(chong)擊(ji)電(dian)(dian)(dian)壓；二是加(jia)(jia)大電(dian)(dian)(dian)容容量(liang)，增(zeng)加(jia)(jia)沖(chong)擊(ji)能量(liang)；三是對放(fang)電(dian)(dian)(dian)球(qiu)隙間距未變，但放(fang)電(dian)(dian)(dian)電(dian)(dian)(dian)壓越來越高(gao)，但仍(reng)顯示不放(fang)電(dian)(dian)(dian)波(bo)形的故(gu)(gu)障，可(ke)用直閃(shan)(shan)法(fa)測試(shi)。對于疑難故(gu)(gu)障，可(ke)長時間施加(jia)(jia)沖(chong)擊(ji)高(gao)壓，迫使故(gu)(gu)障點形成固定放(fang)電(dian)(dian)(dian)通道，然后進行(xing)測試(shi)。
第五節 沖閃法測試純短路故障波形
對(dui)于純短(duan)路故障（如(ru)直接將相(xiang)(xiang)地短(duan)接），可用(yong)沖(chong)閃(shan)(shan)法(fa)測(ce)(ce)試(shi)（如(ru)用(yong)沖(chong)閃(shan)(shan)法(fa)測(ce)(ce)電(dian)纜全長(chang)、測(ce)(ce)速度）。短(duan)路是低阻故障的一(yi)個特(te)例，用(yong)沖(chong)閃(shan)(shan)法(fa)測(ce)(ce)試(shi)純短(duan)路故障時(shi)，波(bo)形反射有(you)其特(te)殊性，例如(ru)用(yong)沖(chong)閃(shan)(shan)法(fa)測(ce)(ce)相(xiang)(xiang)地短(duan)接電(dian)纜時(shi)測(ce)(ce)試(shi)波(bo)形如(ru)圖(tu)（20）所(suo)示：
圖（20） 沖閃法測試純短(duan)路故(gu)障波(bo)形(xing)
波(bo)形(xing)特點：純短(duan)路故障測試時，其波(bo)形(xing)特點為發(fa)射波(bo)形(xing)和反射波(bo)形(xing)都為正脈沖波(bo)形(xing)，這與低壓脈沖測試終(zhong)端開(kai)路故障波(bo)形(xing)相(xiang)似。
定(ding)標方法：分別用發(fa)射脈沖波(bo)形及反射脈沖波(bo)形上升沿與基線交(jiao)點(dian)定(ding)光標起(qi)點(dian)、終(zhong)點(dian)。若是測故障，其(qi)測試距離(li)就為(wei)故障距離(li)；若是用好相終(zhong)端短接測全(quan)長(chang)，則二波(bo)形間距離(li)就為(wei)電纜全(quan)長(chang)。
了(le)解(jie)純(chun)短(duan)路故障(zhang)測(ce)試波(bo)(bo)形(xing)特(te)點，有助(zhu)于我(wo)們分(fen)析理解(jie)各種故障(zhang)實測(ce)波(bo)(bo)形(xing)。在(zai)特(te)殊情況下，也可(ke)用此種方法(fa)測(ce)電纜全長(chang)、或者測(ce)電波(bo)(bo)傳輸速(su)度。
第六節 沖閃測試時故障點二次擊穿放電波形
對于(yu)個別阻(zu)(zu)值較高的(de)高阻(zu)(zu)故(gu)障，不是一(yi)下子故(gu)障點(dian)(dian)(dian)擊(ji)穿閃絡放(fang)電，而是沖擊(ji)電壓越過(guo)故(gu)障點(dian)(dian)(dian)，先(xian)傳到終端(duan)，再從終端(duan)返(fan)回過(guo)程(cheng)中、電壓疊加，然后(hou)故(gu)障點(dian)(dian)(dian)才閃絡放(fang)電，此(ci)后(hou)在測(ce)試端(duan)和故(gu)障點(dian)(dian)(dian)之間(jian)來回反(fan)射，顯(xian)示故(gu)障點(dian)(dian)(dian)二次(ci)擊(ji)穿放(fang)電波形(xing)。沖閃法電流取樣測(ce)試時，故(gu)障點(dian)(dian)(dian)二次(ci)擊(ji)穿放(fang)電波形(xing)如圖6.6所示：
圖（21） 故障點(dian)二次(ci)擊(ji)穿(chuan)測試波形
波形(xing)特點(dian)：二(er)次擊穿波形(xing)特點(dian)為發射(she)脈(mo)沖(chong)(chong)為正(zheng)脈(mo)沖(chong)(chong)波形(xing)，一次反(fan)射(she)為負(fu)脈(mo)沖(chong)(chong)波形(xing)，并(bing)且二(er)次波形(xing)間(jian)距離為電纜全長（同(tong)故障點(dian)不放電波形(xing)）。從第三個波形(xing)開(kai)始(shi)，測試波形(xing)與沖(chong)(chong)閃(shan)測試標準波形(xing)一致，其間(jian)距代(dai)表故障距離。
定(ding)光標(biao)(biao)方法：二(er)(er)次擊穿(chuan)(chuan)波(bo)(bo)(bo)形(xing)同時具(ju)有(you)故障(zhang)點不(bu)放電波(bo)(bo)(bo)形(xing)及正常放電波(bo)(bo)(bo)形(xing)特(te)(te)點。定(ding)光標(biao)(biao)時，先(xian)定(ding)前(qian)面(mian)二(er)(er)波(bo)(bo)(bo)形(xing)，看是(shi)否與(yu)電纜全長(chang)一致(zhi)，然后(hou)再(zai)觀察后(hou)面(mian)幾個(ge)反射波(bo)(bo)(bo)形(xing)，看是(shi)否具(ju)有(you)前(qian)面(mian)講(jiang)的沖(chong)閃波(bo)(bo)(bo)形(xing)特(te)(te)點（正脈(mo)沖(chong)前(qian)沿有(you)負反沖(chong)，且各反射波(bo)(bo)(bo)形(xing)間(jian)距一致(zhi)）。若具(ju)有(you)二(er)(er)次擊穿(chuan)(chuan)波(bo)(bo)(bo)形(xing)特(te)(te)點，則(ze)按后(hou)面(mian)具(ju)有(you)故障(zhang)點閃絡擊穿(chuan)(chuan)特(te)(te)點的二(er)(er)波(bo)(bo)(bo)形(xing)分別(bie)定(ding)光標(biao)(biao)起(qi)點、終點，就可(ke)確定(ding)故障(zhang)點距離。
實際測(ce)試時須注意，由于故障性質及測(ce)試條件不同，二(er)次擊穿波(bo)(bo)形(xing)(xing)也變化較(jiao)大，有(you)時第(di)二(er)個(ge)波(bo)(bo)形(xing)(xing)（終端不放電反射波(bo)(bo)形(xing)(xing)）與第(di)三個(ge)波(bo)(bo)形(xing)(xing)間距較(jiao)大（延時擊穿時間較(jiao)長(chang)），有(you)時間距小，甚至合二(er)為一（延時較(jiao)小）。定(ding)光標時，不管前(qian)面幾個(ge)波(bo)(bo)形(xing)(xing)多(duo)么復雜，只要(yao)后面有(you)正(zheng)常放電波(bo)(bo)形(xing)(xing)，就按后面波(bo)(bo)形(xing)(xing)定(ding)光標起(qi)點、終點，確定(ding)故障距離。
對于故(gu)障點二次擊穿(chuan)波形，測(ce)試(shi)時可以加大球(qiu)間隙(xi)，增加電(dian)容容量，提高沖擊電(dian)壓，一般就(jiu)可以測(ce)出正常閃絡放電(dian)波形。
第七節、沖閃測試時近端故障測試波
若故障點距測試(shi)(shi)端很近（15－20米以下），沖閃測試(shi)(shi)時，測試(shi)(shi)波形如圖（22）所(suo)示：
圖（22） 近端故障(zhang)沖閃測試(shi)波形(xing)
波形(xing)特點：近端故(gu)障用閃(shan)絡法測試時，其波形(xing)特點為(wei)(wei)；測試波形(xing)為(wei)(wei)正負交(jiao)替的余弦大振蕩波形(xing)，并且二(er)波形(xing)間(jian)距離大于(yu)電纜(lan)全長(chang)，為(wei)(wei)電纜(lan)全長(chang)數倍。
遇到(dao)近端(duan)反射波(bo)形時，說(shuo)明故(gu)(gu)障點離(li)測(ce)(ce)試(shi)(shi)端(duan)不遠。要(yao)精確測(ce)(ce)試(shi)(shi)，有(you)以(yi)下幾(ji)種方法：一(yi)是(shi)到(dao)另一(yi)端(duan)測(ce)(ce)試(shi)(shi)；二是(shi)用標(biao)準長(chang)度(du)電(dian)纜（如50米或(huo)100米）與被測(ce)(ce)電(dian)纜相(xiang)連接測(ce)(ce)試(shi)(shi)，在(zai)測(ce)(ce)試(shi)(shi)距(ju)離(li)后，測(ce)(ce)試(shi)(shi)距(ju)離(li)減(jian)去所(suo)加(jia)(jia)電(dian)纜長(chang)度(du)，即(ji)為故(gu)(gu)障點至測(ce)(ce)試(shi)(shi)端(duan)距(ju)離(li)；三是(shi)用好(hao)相(xiang)與故(gu)(gu)障相(xiang)在(zai)遠端(duan)相(xiang)接，將測(ce)(ce)試(shi)(shi)信號(hao)加(jia)(jia)在(zai)好(hao)相(xiang)進行測(ce)(ce)試(shi)(shi)。
總之(zhi)，對各(ge)種電纜故(gu)障(zhang)測(ce)試(shi)過(guo)程中，正確地分(fen)析(xi)波(bo)形(xing)(xing)，是快速完(wan)成粗測(ce)定點的(de)關鍵。不論故(gu)障(zhang)波(bo)形(xing)(xing)多(duo)么復雜，歸納起來，不外乎(hu)上面講到的(de)各(ge)種測(ce)試(shi)波(bo)形(xing)(xing)的(de)變形(xing)(xing)。
